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簡要描述：BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-09-03訪 問 量： 6076相關(guān)文章
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產(chǎn)品介紹
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個(gè)電場，通過激光照射到電場中的樣品上，光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運(yùn)動造成的散射光的多普勒頻移，進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。
基本性能指標(biāo)
Zata電位測試
| 檢測角度 | 12° |
| Zeta范圍 | 無實(shí)際限制 |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導(dǎo)率范圍 | 0-260 mS/cm |
| Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – >120 μm |
趨勢測試
| 模式 | 時(shí)間和溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15℃-120℃ |
|
冷凝控制 |
干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
|
標(biāo)準(zhǔn)激光光源 |
50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
|
相關(guān)器 |
最多 4000通道，1011動態(tài)線性范圍 |
|
檢測器 |
APD （高性能雪崩光電二極管） |
|
光強(qiáng)控制 |
0.0001% - 100%，手動或者自動 |
檢測參數(shù)
●Zeta 電位
●Zeta 電位分布
●電導(dǎo)率
檢測技術(shù)
●電泳光散射
選配件
● BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。
● BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
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